2025年11月22日，第十五屆全國顆粒測試學術會議在廣東佛山盛大啟幕。本次會議由中國顆粒學會顆粒測試專業委員會與北京粉體技術協會聯合主辦，恰逢專委會成立四十周年，以顆粒測試新方法、新技術的創新應用與發展動態為核心議題，系統總結四十年行業理論與技術成果，同期發布的《中國顆粒測試40年》合集，更以近十年技術突破與儀器國產化成就為亮點，為行業留存珍貴發展檔案。澳譜特科技（上海）有限公司攜核心產品與前沿技術亮相，憑借自主創新實力成為展會焦點。

作為深耕顆粒表征技術十余年的專業制造商，澳譜特科技在展會現場重點展示了納米粒度及Zeta電位分析儀和動態圖像粒度粒形分析儀兩大核心產品。其中納米粒度及Zeta電位分析儀采用多角度動態光散射技術，配合高靈敏度探測器，可實現納米級顆粒粒徑的精準測量，測量結果穩定可靠；動態圖像粒度粒形分析儀則能同步完成顆粒大小與形態的可視化分析，憑借廣泛的適用性為工業生產與科研實驗提供數據支撐。兩款產品的技術優勢與多元應用價值，吸引了眾多參會嘉賓、科研人員及企業代表駐足咨詢、深度交流。

此外，澳譜特科技應用工程師還做了題為《電泳光散射法Zeta電位測量及操作指南》的報告。報告介紹了自研的U形毛細管樣品池：“U形毛細管樣品池，由于樣品池底部（測量點）是水平的，從而獲得了比傳統的半圓形毛細管樣品池更加均勻的電場，進而提高了Zeta電位的測量精度與重復性"，配合樣品池結構示意圖、電場分布仿真圖等可視化材料，直觀呈現了該技術的創新點與優勢，引發現場熱烈關注。報告還立足電泳光散射核心原理，結合公司在Zeta電位分析領域的研發積累，詳細解析了測量關鍵操作要點、常見問題解決方案及數據精準度提升技巧，特別分享了澳譜特Zeta電位分析儀在分散體系穩定性評估中的實踐應用，為現場觀眾提供了兼具理論分析與實操價值的專業參考，贏得行業同仁廣泛認可。

在頒獎環節，澳譜特科技（上海）有限公司獲得了“突出貢獻企業"獎。

此次參展，既是澳譜特科技對自身技術成果的一次集中檢閱，也是參與行業交流、共謀發展的重要契機。作為擁有自主知識產權的顆粒測試設備生產商，澳譜特科技始終秉承“品質源于專業"的理念，持續深耕核心技術研發。未來，公司將繼續聚焦顆粒測試技術的突破與迭代，不斷優化產品性能與應用解決方案，為推動我國顆粒測試儀器國產化進程、助力行業高質量發展注入更多創新力量。